微位移測試儀 型號：HXW-II

產品簡介:
自動化控制和光學設備在定位、校正、檢測、光路對準中都要用到精密移動與控制。微位移測試儀是能夠實現精密位移的微位移測控設備，**針對各企業眾多產品的對準、調節、位移和封裝等，以產品的不同而配對的精密平臺可作X軸、Y軸、Z軸、R軸、S軸手動/自動調整，微分頭精密移動調整。實現精密移動，重復定位精度高、性能穩定、重復性好、配套組合功能齊，并且模塊式結構組合拆卸方便，并提供系列化組合平臺用于固定裝置的卡具和托架。可以在搖擺臺小角度搖擺情況下距離幾米外*接觸測量，對被測對象額外增加的（用于測試所需的）負載體積小、重量輕。
測試功能：
 1、在被測對象同時存在平動及轉動的情況下實現對被測對象方位及俯仰兩軸轉動的同時測試，測量時對被測對象*接觸；
 2、被測對象運動測量的角分辨率：2＂，精度10＂；
 3、測量范圍(被測對象方位及俯仰方向轉角范圍) ：±2.25 °；
 4、測量頻率（幀頻）：不低于1000Hz， 在1000Hz幀頻滿幅情況下持續測試時間不少于4s。
微位移測試儀 型號：HXW-II